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  • 費(fèi)思FTI5000系列FTI5015-1000保險(xiǎn)絲測(cè)試儀
    費(fèi)思FTI5000系列FTI5015-1000保險(xiǎn)絲測(cè)試儀

    費(fèi)思FTI5000系列FTI5015-1000保險(xiǎn)絲測(cè)試儀是專為保險(xiǎn)絲、熔斷器等產(chǎn)品設(shè)計(jì)的專業(yè)測(cè)試設(shè)備,嚴(yán)格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-2015及IEC60296-6:2010等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)模擬多種復(fù)雜工況(如熔斷計(jì)時(shí)、電流沖擊、耐久測(cè)試等),費(fèi)思FTI5000系列保險(xiǎn)絲測(cè)試儀能夠全面驗(yàn)證保險(xiǎn)絲的性能與可靠性。

    更新日期:2025-05-14型號(hào):訪問(wèn)量:63
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  • 費(fèi)思FTI5000系列FTI5015-200保險(xiǎn)絲測(cè)試儀
    費(fèi)思FTI5000系列FTI5015-200保險(xiǎn)絲測(cè)試儀

    費(fèi)思FTI5000系列FTI5015-200保險(xiǎn)絲測(cè)試儀是專為保險(xiǎn)絲、熔斷器等產(chǎn)品設(shè)計(jì)的專業(yè)測(cè)試設(shè)備,嚴(yán)格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-2015及IEC60296-6:2010等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)模擬多種復(fù)雜工況(如熔斷計(jì)時(shí)、電流沖擊、耐久測(cè)試等),費(fèi)思FTI5000保險(xiǎn)絲測(cè)試儀能夠全面驗(yàn)證保險(xiǎn)絲的性能與可靠性。

    更新日期:2025-05-14型號(hào):訪問(wèn)量:64
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  • 致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測(cè)試儀
    致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測(cè)試儀

    致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測(cè)試儀產(chǎn)品特色: ●測(cè)試參數(shù):Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs,Rp, D,Q ●測(cè)試頻率:100kHz~300MHz ●量測(cè)范圍:100mΩ~5kΩ ●量測(cè)速度:0.5/0.9/2.1/3.7(ms)

    更新日期:2025-05-09型號(hào):訪問(wèn)量:128
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  • SIC碳化硅器件參數(shù)測(cè)試儀HUSTEC-3000
    SIC碳化硅器件參數(shù)測(cè)試儀HUSTEC-3000

    SIC碳化硅器件參數(shù)測(cè)試儀HUSTEC-3000功能及主要參數(shù):   適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時(shí)間參數(shù)測(cè)試。

    更新日期:2024-01-29型號(hào):訪問(wèn)量:1662
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  • HUSTEC-DC-2020分立器件測(cè)試儀
    HUSTEC-DC-2020分立器件測(cè)試儀

    HUSTEC-DC-2020分立器件測(cè)試儀設(shè)備擴(kuò)展性強(qiáng),通過(guò)選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座,自動(dòng)補(bǔ) 償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

    更新日期:2024-01-29型號(hào):訪問(wèn)量:1539
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  • MOS管動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀ITC57300
    MOS管動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀ITC57300

    MOS管動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀ITC57300 ITC57300是美國(guó)ITC公司設(shè)計(jì)生產(chǎn)的高集成度功率半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試設(shè)備,采用測(cè)試主機(jī)+功能測(cè)試頭+個(gè)性板的測(cè)試架構(gòu),可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項(xiàng)動(dòng)態(tài)參數(shù)的測(cè)試要求,且具有波形實(shí)時(shí)顯示分析功能,是目前具水平的完備可靠的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試設(shè)備。

    更新日期:2024-01-29型號(hào):訪問(wèn)量:2097
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  • 大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀HUSTEC-1200A-MT
    大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀HUSTEC-1200A-MT

    大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀HUSTEC-1200A-MT 華科智源IGBT電參數(shù)測(cè)試儀,可用于多種封裝形式的IGBT的測(cè)試,還可以測(cè)量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測(cè)試,廣泛應(yīng)用于軌道交通,電動(dòng)汽車(chē),風(fēng)力發(fā)電,焊機(jī)行業(yè)的IGBT來(lái)料選型和失效分析。測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)單,既可以在測(cè)試主機(jī)里設(shè)置參數(shù)直接測(cè)試,又可以通過(guò)軟件控制主機(jī)編程后進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。

    更新日期:2024-01-29型號(hào):訪問(wèn)量:1548
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  • IGBT雙脈沖測(cè)試平臺(tái)PT-1224
    IGBT雙脈沖測(cè)試平臺(tái)PT-1224

    IGBT雙脈沖測(cè)試平臺(tái)PT-1224 該設(shè)備用于功率半導(dǎo)體模塊(IGBT、FRD、肖特基二極管等)的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試,以表征器件的動(dòng)態(tài)特性,通過(guò)特制測(cè)試夾具的連接,實(shí)現(xiàn)模塊的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試 品牌: 華科智源 名稱: 雙脈沖測(cè)試平臺(tái) 用途: 測(cè)試動(dòng)態(tài)參數(shù)

    更新日期:2024-01-29型號(hào):訪問(wèn)量:1871
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