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HIOKI日置IM3570高精度電池阻抗分析測(cè)試儀產(chǎn)品詳情：● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 ● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量 ● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量

鼎陽(yáng)SNA6000A系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀SNA6152A參數(shù)：?輸出頻率范圍?100 kHz - 50 GHz覆蓋射頻至毫米波高頻段，適配衛(wèi)星通信及超高頻器件測(cè)試需求 ?端口數(shù)?2雙端口矢量架構(gòu)，支持S參數(shù)測(cè)量與時(shí)域反射（TDR）分析功能 ?頻率分辨率?1 Hz高精度數(shù)字合成技術(shù)，校準(zhǔn)后頻率穩(wěn)定性±0.1 ppm（典型值）

鼎陽(yáng)SNA6154A矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試測(cè)量?jī)x器：輸出頻率范圍?100 kHz - 50 GHz覆蓋射頻至毫米波高頻段，適配衛(wèi)星通信及超高頻器件測(cè)試需求 ?端口數(shù)?4四端口矢量架構(gòu)，支持多端口S參數(shù)測(cè)量與差分信號(hào)分析功能 ?頻率分辨率?1 Hz高精度數(shù)字合成技術(shù)，校準(zhǔn)后頻率穩(wěn)定性±0.1 ppm（典型值）

?鼎陽(yáng)SNA6142A高精度矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量?jī)x器參數(shù)：輸出頻率范圍?100 kHz - 44 GHz覆蓋射頻至毫米波頻段，適配高頻通信及超寬帶器件測(cè)試需求 ?端口數(shù)?2雙端口矢量架構(gòu)，支持S參數(shù)測(cè)量與時(shí)域反射（TDR）分析功能 ?頻率分辨率?1 Hz高精度數(shù)字合成技術(shù)，校準(zhǔn)后頻率穩(wěn)定性±0.1 ppm（典型值）

鼎陽(yáng)SNA6144A 4端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀解決方案：?輸出頻率范圍?100 kHz - 44 GHz覆蓋射頻至毫米波頻段，適配高頻通信及超寬帶器件測(cè)試需求 ?端口數(shù)?4四端口矢量架構(gòu)，支持多端口S參數(shù)測(cè)量與差分信號(hào)分析 ?頻率分辨率?1 Hz高精度數(shù)字合成技術(shù)，最小步進(jìn)精度達(dá)1 Hz，校準(zhǔn)后穩(wěn)定性±0.1 ppm

鼎陽(yáng)SNA6000A系列SNA6122A矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀參數(shù)：?輸出頻率范圍?100 kHz - 13.5 GHz覆蓋射頻至中高頻段，適配無(wú)線通信及微波器件測(cè)試需求 ?端口數(shù)?2雙端口矢量架構(gòu)，支持S參數(shù)測(cè)量與時(shí)域反射（TDR）分析功能 ?頻率分辨率?1 Hz高精度數(shù)字合成技術(shù)，頻率步進(jìn)精度達(dá)±

鼎陽(yáng)SNA6124A國(guó)產(chǎn)4端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：輸出頻率范圍?100 kHz - 13.5 GHz覆蓋射頻至中高頻段，適配無(wú)線通信及微波組件測(cè)試需求 ?端口數(shù)?4四端口矢量架構(gòu)，支持多端口S參數(shù)測(cè)量與差分信號(hào)分析 ?頻率分辨率?1 Hz高精度數(shù)字合成技術(shù)，最小步進(jìn)精度達(dá)1 Hz，頻率穩(wěn)定性±0.1 ppm

鼎陽(yáng)SNA6132A頻率100 kHz矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀參數(shù) ?參數(shù)項(xiàng)??規(guī)格說(shuō)明??技術(shù)特性與驗(yàn)證來(lái)源? ?輸出頻率范圍?100 kHz - 26.5 GHz覆蓋射頻至毫米波頻段，適配5G通信及高頻器件測(cè)試需求 ?端口數(shù)?2雙端口矢量架構(gòu)，支持S參數(shù)測(cè)量與時(shí)域反射（TDR）分析功能