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日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡 JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕松拍攝高分辨率圖像的SEM” 為理念而推出的HR*系列的第四代產(chǎn)品。操作的自動(dòng)化和觀察性能的提高，可以實(shí)現(xiàn)用戶從可以看見到對未知的探索。

日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外，還新增了一些功能，確保所有SEM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)和更好的用戶體驗(yàn)。FE-SEM的操作從沒有像JSM-IT810系列這么簡單。

日本電子JEM-120i透射電子顯微鏡 120kV透射電鏡多用于生物、高分子等軟材料領(lǐng)域。這次開發(fā)的新型電子顯微鏡JEM-120i以“緊湊的”，“易于使用的”和“可擴(kuò)展的”為理念，設(shè)備外觀煥然一新，而且從操作到維護(hù)都很簡單化。

日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡 EM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽(yù)的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了最新的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能，操作方便，簡明易懂，在材料、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)等多個(gè)研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。

日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動(dòng)樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計(jì)的Ω能量過濾器與無孔位相板的組合，進(jìn)一步提高了生物樣品的襯度。

JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。

JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺和自動(dòng)樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲12個(gè)樣品，可以任意取出和交換一個(gè)或數(shù)個(gè)樣品，能靈活地進(jìn)行測試排序。