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日置LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀IM3536元器件測(cè)試 測(cè)量頻率DC，4 Hz?8 MHz的LCR測(cè)試儀 測(cè)量頻率DC，4Hz~8MHz 測(cè)量時(shí)間：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保證，可測(cè)量低阻 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量

HIOKI日置LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀IM3533 測(cè)量頻率1mHz?200kHz的LCR測(cè)試儀 應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域

日置粉末阻抗測(cè)試系統(tǒng)LCR測(cè)試儀 IM3523 測(cè)量頻率40Hz - 200kHz的LCR測(cè)試儀 應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇

SAIMR6630?精密LCR測(cè)試儀提供 7 種頻率選項(xiàng)（10 Hz 至1/3/5/10/20/30/50MHz），可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試， 測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。提供 輸出阻抗25?/100?可切換，ALC補(bǔ)償，多步測(cè)試; BIN分類(lèi)及比較器功能在自動(dòng)元件生產(chǎn)時(shí)進(jìn)行良品與不良 品分類(lèi)。